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用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法

放大字体  缩小字体 发布日期:2012-03-14  浏览次数:696   关注:加关注
核心提示:用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法

【标准号】ASTM B 651-1983

【标准简介】

【 标准编号 】 ASTM B 651-1983
【 标准名称 】 用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法
【 英文名称 】 Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with the Double-Beam Interference Microscope
【 正文语种 】 英语
【 起草单位 】 ASTM
【 发布单位 】 ASTM
【 发布日期 】 1983
【 标准状态 】 N
【 开本页数 】 3P;A4
【国际标准分类号】 77.060 77.120.40 
【中国标准分类号】 A29 
【中文主题词】 镍 铬 显微分析 腐蚀 金属覆层 金属的 测量技术 覆层 金属 铜 电镀 显微镜 
【英文主题词】 MICROSCOPIC ANALYSIS METAL COATINGS MEASURING TECHNIQUES METALLIC ELECTROPLATING MICROSCOPES COPPER CHROMIUM COATINGS CORROSION METALS NICKEL

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