【简介】
实验
经工艺实验,相对理想的镀液组成和工艺条件为: CuCl2·2H20 16.0~21.
以恒电流密度(1.
采用Philips公司的XL30 ESEM扫描电子显微镜(SEM)观察镀层的表面形貌,加速电压20 kV,真空度优于l0-5 mbar(即1 mPa)。
以日本理学公司的D/MAX-RC多晶转靶X射线衍射仪(XRD)测定镀层的微观结构。采用Cu Ka靶,波长为0.154 06 nln,管流30 mA,管压40 kV,狭缝系统为DS 1°-SS 1°-RS 0.
【简介】
实验
经工艺实验,相对理想的镀液组成和工艺条件为: CuCl2·2H20 16.0~21.
以恒电流密度(1.
采用Philips公司的XL30 ESEM扫描电子显微镜(SEM)观察镀层的表面形貌,加速电压20 kV,真空度优于l0-5 mbar(即1 mPa)。
以日本理学公司的D/MAX-RC多晶转靶X射线衍射仪(XRD)测定镀层的微观结构。采用Cu Ka靶,波长为0.154 06 nln,管流30 mA,管压40 kV,狭缝系统为DS 1°-SS 1°-RS 0.
豫公网安备41010502006893号