【简介】
用基体x射线衍射法测量了化学镀Ni-P合金的镀层厚度，并进行了误差分析。结果表明．基体x射线衍射法是一种精确度较高的镀层厚度无损测量法，在其适用的范围之内，能客观准确地测量出镀层厚度，误差小于金相法测量误差；基体x射线衍射法的测量结果。几乎不受基体表面镀层结晶状态的影响。可以用来测量晶态或非晶态镀层厚度。
镀层厚度的X射线衍射法测量.pdf
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