摘要：应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基地—Au/CuO 和HOPG/CuO，并在带导电针尖的原子力显微测量（CT-AFM）平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法、在大气室温条件下，对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量，结果表明，该碳纳米管呈现金属性。
摘要：应用电沉积方法制备两种低粗糙度、具有导电/绝缘交接结构的测量基地—Au/CuO 和HOPG/CuO，并在带导电针尖的原子力显微测量（CT-AFM）平台上建立了简便的一维纳米材料轴向电子输运性质测量方法、在大气室温条件下，对组装在两种基底上的单束碳纳米管轴向电学性质进行了定性测量，结果表明，该碳纳米管呈现金属性。
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