摘要：运用交流阻抗法和光电化学法研究了不锈钢载波钝化膜层的半导体性质，讨论了交流阻抗测试中扰动频率的变化对Mott-Schotlky曲线的影响，讨论了不锈钢载波钝化膜的n/p型、杂质施主密度和平带电位等半导体性质，同时结合光电化学法对交流阻抗测试结果进行了验证分析，实验结果认为不锈钢载波钝化膜层具有与直流钝化膜层形似的半导体性质，并通过膜层的组成结构对其半导体性质做了分析。
摘要：运用交流阻抗法和光电化学法研究了不锈钢载波钝化膜层的半导体性质，讨论了交流阻抗测试中扰动频率的变化对Mott-Schotlky曲线的影响，讨论了不锈钢载波钝化膜的n/p型、杂质施主密度和平带电位等半导体性质，同时结合光电化学法对交流阻抗测试结果进行了验证分析，实验结果认为不锈钢载波钝化膜层具有与直流钝化膜层形似的半导体性质，并通过膜层的组成结构对其半导体性质做了分析。
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
豫公网安备41010502006893号
